Elektronové mikroskopy

HF-3300

Přístroj HF-3300 je pokrokový 300kV TEM/STEM , který doplňuje rychle rostoucí nabídku mikroskopů Hitachi pro špičkový materiálový výzkum. HF-3300 obsahuje studený autoemisní zdroj elektronů (CFEG), poskytující vynikající spektroskopické parametry s vyjímečnými možnostmi elektronové holografie. Dvojitá (biprism ) elektronová holografie může být použita pro mapování dopantů a studium magnetických a dielektrických materiálů.

NB5000

NanoDUE’T NB5000 je přístroj se dvěma zabudovanými budicími svazky - FIB-SEM , který nabízí nový přístup v konstrukci přístroje FIB-SEM, s vertikálním tubusem FIB a skloněným tubusem SEM.

S-3700N

SS3700 N je nový, pravý analytický přístroj pro ultra-velké vzorky, až 300 mm. Má vzorkovou komoru osazenou až 11 vstupy pro simultánní WDX, EDX a XRF analýz s úhlem 35°. Firmou Hitachi patentované elektronové dělo Quad bias poskytuje výjimečné zobrazení a analytické parametry a to v celém rozsahu urychlovacích napětí, ale zvláště při nízkém napětí , tedy např. 3 kV. Zobrazení při proměnlivém tlaku (VP) je možné díky vysoce výkonnému patentovanému 5-segmentovému BSE detektoru Hitachi, který je dostatečně citlivý pro práci při velkých rychlostech rastrování a nabízí výjimečnou citlivost i při urychlovacích napětích pod 1 kV.

S5500

S5500 - FE-SEM s ultra vysokým rozlišením a EDX- dosáhněte na 0.4 nm

SU 6600

Nový autoemisní rastrovací mikroskop Hitachi SU6600 s proměnlivě nastavitelným tlakem v komoře ( VP) využívá nové elektronové dělo s též unikátní regulaci vakua. Poskytuje rychlou a přesnou analýzu chemického složení.Nové Schottkyho autoemisní elektronové dělo poskytuje proud svazu až 200 nA a tak je zajištěna vyjímečná kvalita analytických výsledků při výborné stabilitě a citlivosti. Analytická komora přístroje pojme současně detekční systémy EDS , WDX a EBSD (electron backscatter diffraction) při optimálním geometrickém rozložení .

SU-70

Analytický FE-SEM s velkou komorou využívá unikátní objektivové čočky s dvojím režimem provozu a také vysokého proudu elektronového svazku z nového Schottkyho emisního zdroje, a to pro superrychlou, stabilní analýzu. Objektivová čočka s dvojím režimem provozu umožňuje mikroskopu provoz v podmínkách blízko režimu in-lens pro dosažení ultra-vysokého rozlišení, nebo v režimu Field-Free pro optimální analýzu EBSP a magnetických vzorků. Vzorková komora má až 15 vstupů pro simultánní montáž analytických detektorů. Příslušenství obsahuje např. EDS, WDX (jak vlnově disperzní, tak PBS), EBSP, katodoluminiscenci, YAG BSE detektor, detektor procházejících elektronů, kryo přenos vzorku a kameru pro pozorování v komoře.

TM-3000

Překvapující kvalita zobrazení a doplňková prvková mikroanalýza na Vašem stole